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供应高能电路故障维修测试仪
关键字：IC测试仪/集成电路测试仪/电路故障维修测试
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供货数量：
100 台
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最小定量：
1 台
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发布日期：
2008-9-9 15:08:27
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有效期：
三个月
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产品参数说明
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产品名称： |
高能电路故障维修测试仪 |
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相关品牌： |
北京金三航 |
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包装说明： |
暂无 |
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产品规格： |
暂无 |
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运输说明： |
暂无 |
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交货说明： |
来电洽谈 |
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产品详细描述 |
高能电路故障维修测试仪
,1、数字IC在线/离线功能测试
⑴[在线测试]
用测试夹卡住被测数字IC，GR系列测试仪依照被测IC在电路板上的实际自身连接关系自动生成并施加测试代码，再取回其实际响应。将实际响应和理论值进行对比，即可发现功能失效的故障器件。直观显示IC自身连接和功能好坏等测试信息以及每一输出管脚对应的测试代码、实际响应和理论代码，便于迅速缩小电路板故障范围。<a href=http://www.etool.cn/html/sanhang/dianluceshi/index.html>集成电路测试仪</a>
⑵[测试范围]
TTL74/54、CMOS40/45、存储器、全系列驱动器、29000、8000/80000、9000/90000、3400/34000、HD2500、AMD2500、西门子库、俄罗斯、淘汰器件替代库等十个系列数字IC。
⑶[离线测试]
借助离线测试盒对离线状态下数字IC进行功能测试，没有在线因素的影响。<a href=http://www.etool.cn/html/sanhang/dianluceshi/index.html>在线测试仪</a>
⑷[型号识别]
在线、离线识别标识不清或被人为擦掉标识的数字IC的功能型号及替代品。
⑸[测试电源]
独立程控施加组测试+5V电源，采用同步光电控制方式，对电源和地管脚短路、电网瞬间掉电等情况可准确监测并自动保护。
⑹[辅助功能]
①动态总线隔离：多个三态IC的输出并联在一起即构成总线结构。为避免因总线竞争对所测IC的影响，可在其它IC的使能端施加高或低动态同步禁止信号，屏蔽干扰。
②施加上拉电阻：自动辨别未接上拉电阻或等效上拉电阻的集电极开路数字IC，并自动模拟1KΩ的上拉电阻对其完成测试。
③其它辅助功能：如“测试夹自动定位”以及“测试夹接触检查”等。
2、双板数字<a href=http://www.etool.cn/html/sanhang/dianluceshi/index.html>IC在线功能测试</a>
（GR8080以上仪器具备此功能）
⑴[测试过程]
在同一瞬间、同一状态下，用测试夹1和测试夹2对两块电路板上位置相同的数字IC进行在线功能测试，不设理论代码，直接对比两个实际响应，增加了对隐含故障的检出率。
⑵[应用方法]用于：
①好、坏电路板同时测试，不用事先学习，快速直接对比；
②多块坏电路板同时测试，快速对照，多数判决；
③对一块电路板上具有对称布局排列的数字IC同时快速功能测试。
实践表明：这种测试方式极大地提高了测试效率。
⑶[测试要求]
数字通道应不少于80路，测控技术先进，才能完成双板数字IC在线功能测试。
3、数字IC在线状态测试
事先学习好电路板上数字IC的状态信息，如：①管脚逻辑状态（电源、地、信号状态、小电阻接地或电源等）；②管脚之间的连接关系；③输入、输出实际响应等。再比较故障电路板上同样位置的器件，从而发现功能、管脚状态与好板不一致的器件。
测试过程中必须阻断电路板上的干扰源，如拆下晶振、CPU等器件，适用于批量维修或有好电路板可供学习的情况。
4、VI曲线分析测试
在线路结点之间注入一定幅度和频率的周期信号，在显示坐标上形成一条电流随电压变化的关系曲线，即：VI曲线。VI曲线的形状由被测结点之间的特性阻抗所决定，通过比较好、坏电路板（器件）上相同结点之间的VI曲线，可发现特性阻抗发生改变的结点，其通常为器件故障所引发。
VI曲线分析测试几乎适用于任何类型的器件。可采用各种规格的测试夹多点测试或VI探棒单点测试，不受器件封装形式的限制，应用范围极广。相对于传统工具，VI曲线分析测试在测试效率、精确度和信息量等方面都有巨大的优势。
在线测试时，通常需要好、坏电路板对比测试，故障定位在线路结点上。然后应以故障结点为中心，排查同该结点有关联的器件；离线测试时，通常需要好、坏器件对比测试，故障直接定位在器件管脚上。有时也可运用VI曲线对单块电路板或单个器件进行测试，在线时，直接对比电路板上对称布局排列的器件；离线时，根据经验观察并总结器件管脚之间VI曲线形状的规律性。
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